多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA
● nanoSAQLA是一臺(tái)通過動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了實(shí)驗(yàn)室必需的輕量、小型化、標(biāo)準(zhǔn)1分鐘的高速測(cè)定。 另外，這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動(dòng)取樣器、標(biāo)準(zhǔn)配備“5檢體連續(xù)測(cè)量”的新產(chǎn)品。
產(chǎn)品信息
特長
● 1臺(tái)便可實(shí)再5個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量
實(shí)現(xiàn)了在沒有自動(dòng)取樣器的情況下難以連續(xù)測(cè)量的多個(gè)樣品
可以改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量
● 可以對(duì)應(yīng)從稀薄到濃厚的樣品
● 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間1分的高度測(cè)量
自動(dòng)調(diào)整從濃厚系到稀薄系樣品的*佳測(cè)量位置，實(shí)現(xiàn)約1分鐘的高速測(cè)量
● 配備簡(jiǎn)單測(cè)量功能(點(diǎn)擊一鍵即可開始測(cè)量)
沒有任何復(fù)雜的操作，簡(jiǎn)單易懂的軟件
● 因?yàn)槊總€(gè)樣品槽都是獨(dú)立的，沒有接觸污染的風(fēng)險(xiǎn)。
● 搭載溫度梯度功能
測(cè)量范圍（理論值）
● 粒徑0.6nm～10μm
● 濃度范圍 0.00001～40％
● 溫度范圍0～90℃*
規(guī)格
*1 本設(shè)備劃分在激光**基準(zhǔn)（JIS C 6802）的等級(jí)內(nèi)。
*2 Latex120nm：0.00001 ～ 10％、牛黃膽酸：～40%
*3 標(biāo)準(zhǔn)glass cell的批量測(cè)量的情況。
一次性cell或連續(xù)測(cè)量時(shí)， 15 ～ 40℃ （不對(duì)應(yīng)溫度梯度）
*4 選配功能
關(guān)于測(cè)量?jī)x器
「作為分光測(cè)量的領(lǐng)軍者，我們引以為豪的是不斷進(jìn)取，從光源、照明、材料膜厚測(cè)量，一直發(fā)展到探索新的領(lǐng)域。
在1980年代初期，自動(dòng)記錄光度計(jì)作為分光測(cè)量中不可或缺的主流，采用的是通過信號(hào)條移動(dòng)光柵的機(jī)制。當(dāng)時(shí)擁有獨(dú)特產(chǎn)品特長的大塚電子公司，采用了同時(shí)期*先進(jìn)技術(shù)——光電二極管陣列作為傳感器，并在光學(xué)系統(tǒng)中使用光纖，通過計(jì)算機(jī)控制，創(chuàng)造出了具有劃時(shí)代意義的分光分析裝置「多通道分光光譜儀(MCPD)」，給科學(xué)測(cè)量設(shè)備行業(yè)注入了新風(fēng)。
由于MCPD是一個(gè)全新概念的檢測(cè)器，因此剛開始時(shí)被限制在大學(xué)和先進(jìn)的研究部門中使用。
但是，我們引入了數(shù)字技術(shù)來替代傳統(tǒng)的模擬技術(shù)，進(jìn)行了軟件開發(fā)和應(yīng)用開發(fā)，以滿足客戶的需求，并建立了相應(yīng)技術(shù)。不久之后，新概念的價(jià)值得到了理解，并被采納于電子及其他許多行業(yè)中，我們提供的系統(tǒng)可以覆蓋從研究開發(fā)、生產(chǎn)線、質(zhì)量管理等廣泛領(lǐng)域?，F(xiàn)在，MCPD是大塚電子光測(cè)量設(shè)備的核心。
以MCPD為基礎(chǔ)開發(fā)的產(chǎn)品中，例如膜厚測(cè)量設(shè)備，可在處理半導(dǎo)體晶圓上生成的膜的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量，以及在生產(chǎn)線上測(cè)量食品包裝用薄膜的膜厚的設(shè)備等。在其他領(lǐng)域中，還有評(píng)估光源本身的如LED和車前燈等裝置的設(shè)備，以及液晶電視和平板電腦用零部件的評(píng)估設(shè)備，以及用于顯示器生產(chǎn)線的評(píng)估設(shè)備等。
分光測(cè)量業(yè)務(wù)將持續(xù)不斷地向小型檢測(cè)器添加不同的新技術(shù)，不斷開發(fā)高精度、高靈敏度、易于使用的設(shè)備，以滿足各種領(lǐng)域的需求。